Sähkötekniikan ja automaation laitos

Elektroniikan integrointi ja luotettavuus

Elektroniikan integroinnin ja luotettavuuden tutkimus on luonnostaan erittäin monialaista. Tietotaitomme perustuu materiaalitieteeseen ja erityisesti heterogeenisten järjestelmien materiaalien välisten ilmiöiden ymmärtämiseen. Metodologiamme yhdistää mikrorakenteiden vahvan kokeellisen tutkimuksen ja analyysin termodynaamiseen ja termomekaaniseen sekä diffuusiokineettiseen mallintamiseen.
Electronics integration and reliability

Viimeisimmät julkaisut

Metalorganic Chemical Vapor Deposition of AlN on High Degree Roughness Vertical Surfaces for MEMS Fabrication

Kristina Bespalova, Glenn Ross, Sami Suihkonen, Mervi Paulasto-Kröckel 2024 Advanced Electronic Materials

Recent Advances of VO2 in Sensors and Actuators

Mahmoud Darwish, Yana Zhabura, László Pohl 2024 Nanomaterials

Investigative characterization of delamination at TiW-Cu interface in low-temperature bonded interconnects

Obert Golim, Vesa Vuorinen, Glenn Ross, Sami Suihkonen, Mervi Paulasto-Kröckel 2024 Materials Characterization

Low-Temperature Wafer-Level Bonding with Cu-Sn-In Solid Liquid Interdiffusion for Microsystem Packaging

Obert Golim, Vesa Vuorinen, Tobias Wernicke, Marta Pawlak, Mervi Paulasto-Kröckel 2024 Microelectronic Engineering

Thermal Boundary Conductance of Direct Bonded Aluminum Nitride to Silicon Interfaces

Tarmo Nieminen, Tomi Koskinen, Vladimir Kornienko, Glenn Ross, Mervi Paulasto-Kröckel 2024 ACS Applied Electronic Materials

Bonding of ceramics to silver-coated titanium—A combined theoretical and experimental study

Vesa Vuorinen, Reijo Kouhia, Mauno Könönen, Jorma K. Kivilahti 2024 Journal of Biomedical Materials Research - Part B Applied Biomaterials

In-Plane AlN-based Actuator: Toward a New Generation of Piezoelectric MEMS

Kristina Bespalova, Tarmo Nieminen, Artem Gabrelian, Glenn Ross, Mervi Paulasto-Kröckel 2023 Advanced Electronic Materials

Co, In, and Co–In alloyed Cu6Sn5 interconnects: Microstructural and mechanical characteristics

F. Emadi, V. Vuorinen, G. Ross, M. Paulasto-Kröckel 2023 Materials Science and Engineering: A

Achieving low-temperature wafer level bonding with Cu-Sn-In ternary at 150 °C

Obert Golim, Vesa Vuorinen, Glenn Ross, Tobias Wernicke, Marta Pawlak, Nikhilendu Tiwary, Mervi Paulasto-Kröckel 2023 Scripta Materialia

Detection of In-Plane Movement in Electrically Actuated Microelectromechanical Systems Using a Scanning Electron Microscope

Tarmo Nieminen, Nikhilendu Tiwary, Glenn Ross, Mervi Paulasto-Kröckel 2023 Micromachines
Lisää tietoa tutkimuksestamme löytyy Aallon tutkimusportaalista.
Tutkimusportaali
  • Julkaistu:
  • Päivitetty: