Väitös mittaustekniikan alalta, DI Robin Aschan
Väitös Aalto-yliopiston sähkötekniikan korkeakoulusta, sähkötekniikan ja automaation laitokselta
![The figure shows an artificial material used for verifying the function of a ray tracing model (RTM).](/sites/g/files/flghsv161/files/styles/o_288w_ah_n/public/2024-06/Aschan_brdf_artifact.jpg?itok=9f4hgbm_)
Väitöskirjan nimi: Investigations and Applications of Angle-Resolved Measurements of Spectral Reflectance and Transmittance
Tohtoriopiskelija: Robin Aschan
Vastaväittäjä: Dr. Georgi T. Georgiev, NASA Langley Research Center, Yhdysvallat
Kustos: Prof. Erkki Ikonen, Aalto-yliopiston sähkötekniikan korkeakoulu, sähkötekniikan ja automaation laitos
Tiedote luettavissa ruotsiksi ja englanniksi vaihtamalla sivu oikeasta ylälaidasta kyseiseen kieliversioon.
Linkki väitöskirjan sähköiseen esittelykappaleeseen (esillä 10 päivää ennen väitöstä): https://aaltodoc.aalto.fi/doc_public/eonly/riiputus/
Yhteystiedot:
[email protected] | |
Mobile | +358505217830 |
Sähkötekniikan korkeakoulun väitöskirjat: https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/53
- Julkaistu:
- Päivitetty: