Tapahtumat

Väitös mittaustekniikan alalta, DI Robin Aschan

Väitös Aalto-yliopiston sähkötekniikan korkeakoulusta, sähkötekniikan ja automaation laitokselta
The figure shows an artificial material used for verifying the function of a ray tracing model (RTM).

Väitöskirjan nimi: Investigations and Applications of Angle-Resolved Measurements of Spectral Reflectance and Transmittance

Tohtoriopiskelija: Robin Aschan
Vastaväittäjä: Dr. Georgi T. Georgiev, NASA Langley Research Center, Yhdysvallat
Kustos: Prof. Erkki Ikonen, Aalto-yliopiston sähkötekniikan korkeakoulu, sähkötekniikan ja automaation laitos

Tiedote luettavissa ruotsiksi ja englanniksi vaihtamalla sivu oikeasta ylälaidasta kyseiseen kieliversioon.

Linkki väitöskirjan sähköiseen esittelykappaleeseen (esillä 10 päivää ennen väitöstä): https://aaltodoc.aalto.fi/doc_public/eonly/riiputus/

Yhteystiedot:

Email  [email protected]
Mobile  +358505217830


Sähkötekniikan korkeakoulun väitöskirjat: https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/53

  • Julkaistu:
  • Päivitetty: